表麵粗糙度測量儀

簡要描述：表麵粗糙度測量儀(yi) 能測量下列四個(ge) 參數任意一個(ge) ：Ra,Rmax/Ry,Rz,且可選擇相互替換。在0.8mm/0.03in範圍內(nei) ,可選擇橫移長度為(wei) 1,3或5個(ge) 截止。可以在水平，垂直或倒置位置上進行測量。探頭有四個(ge) 切換位置-軸向（與(yu) X軸重疊），90°,180°,270。

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廠商性質：代理商
更新時間：2017-12-05
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產(chan) 品介紹

表麵粗糙度測量儀(yi) 在SPC-處理裝置上的集成數據輸出，能兼容大多數常用的數據處理係統。容易辨認的LCD讀數顯示，對於(yu) 以微英寸或微米為(wei) 單位的粗糙度測量值，在橫移過表麵半秒後麵就可以顯示。

技術參數
尺            寸： 140×76×25mm/5.5×3×1in
重          量： 435g
顯示分辨率： 0.01μm/ 1μin
顯            示： LCD數顯；電池電量顯示
信            號： H和L（測量值超出範圍）
測量精度：滿足ASME-B46.1 ，ISO，DIN標準和MIL要求
測量範圍： Ra 0.03-6.35μm / 1-250μin，Ry 0.2-25.3μm / 8-999μin，Rmax 0.2-25.3μm / 8-999μin，Rz 0.2-25.3μm / 8-999μin

表麵粗糙度測量儀

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